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  1. 学位論文
  2. 課程博士
  3. 2020-

半導体デバイスの開封前に適用可能な超音波加熱を利用した故障箇所絞込み技術

https://repo.lib.tut.ac.jp/records/2237
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名前 / ファイル ライセンス アクション
k884.pdf k884 (3.7 MB)
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Item type 学位論文 / Thesis or Dissertation(1)
公開日 2022-03-29
タイトル
タイトル 半導体デバイスの開封前に適用可能な超音波加熱を利用した故障箇所絞込み技術
タイトル
言語 en
タイトル Fault Location Technique Using Ultrasonic Heating Applicable to Semiconductor Devices prior to Decapsulation
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ doctoral thesis
アクセス権
アクセス権 open access
著者 松井 , 拓人

× 松井 , 拓人

WEKO 4058

松井 , 拓人

Search repository
学位名
学位名 博士(工学)
学位授与機関
学位授与機関識別子 13904
学位授与機関名 豊橋技術科学大学
学位授与年月日
学位授与年月日 2022-03-23
学位授与番号
学位授与番号 甲第884号
関連サイト
識別子タイプ URI
関連識別子 https://www.tut.ac.jp/university/docs/abstk884.pdf
関連名称 TUT博士論文要旨
著者版フラグ
出版タイプ VoR
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Ver.1 2023-06-19 07:33:27.715898
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